AutoForm-Sigma позволяет анализировать и повышать устойчивость технологических процессов листовой штамповки. Программный модуль обеспечивает прозрачность и глубокое понимание процесса формообразования на ранней стадии проектирования. Это позволяет оценить какое влияние оказывают параметры дизайна перехода на качество детали и в какой степени. Кроме того, это помогает определить необходимые доработки во время наладки и производства. Дополнительно, AutoForm-Sigma подразделяет корректировки, на те, которые не имеют никакого эффекта, и на те, которые дают реальный шанс на решение конкретной проблемы.
Имея на руках всю эту информацию, можно легко идентифицировать критические области детали, где есть те или иные проблемы штампуемости, меры, которые могут быть приняты для решения этих проблем, а также последствия этих мер для других областей. Анализируя характер протекания процесса и, в частности, возможные отклонения штампуемости детали от номинальных показателей, можно провести эффективную его валидацию и свести к минимуму количество бракованных деталей, увеличив, тем самым, эффективность производства. С AutoForm-Sigma можно достичь желаемые показатели качества через более эффективные и устойчивые производственные процессы.
Запрос доп. информации
Запрос демо моделирования
Запрос тренинга
Брошюра – Программное обеспечение для систематического улучшения процесса во время его разработки [английский – PDF – 588 КБ]
Брошюра – Программное обеспечение для повышения устойчивости процессов [английский – PDF – 739 КБ]
Оценка устойчивости производства и поддержка наладки [английский – PDF – 845 КБ]
Этот продукт может использовать один или несколько из следующих патентов, принадлежащих или доступных AutoForm Engineering GmbH, Швейцария: Европейские патенты 1623287, 1665103, 1741012, 1903409, 2442194, 2463792, 2463793, 2520992, 3654225, Патенты США 7542889, 7870792, 7885722, 7894929, 8140306, 8271118, 8280708, 8463583, 8478572, 8560103, 9342070, RE47557 и патенты Японии 4633625, 4852420, 5188803, 5499126. Другие европейские, другие американские, другие японские и другие китайские патенты находятся на рассмотрении.